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用于射頻MEMS器件陶瓷基板的新型制成技術(shù)
2022-10-17
文章詳情

微機電系統因其巨大的能力和良好的品質(zhì)而經(jīng)常用于T/R模塊,特別是用于空間模塊化應用。將MEMS技術(shù)用于射頻應用可以制成高性能和低成本的集成元件,如可變電容器、電感器和開(kāi)關(guān)。

因此,RF MEMS技術(shù)提供了先進(jìn)的解決方案射頻信號切換設備。該技術(shù)允許大幅減少設備尺寸和連接數量,以在0到50 GHz的大帶寬信號下運行,并具有一致的性能。事實(shí)上,MEMS器件由于其極小的尺寸、開(kāi)路狀態(tài)下的高隔離度、短路狀態(tài)下的低插入損耗和高線(xiàn)性質(zhì)而被認為是一種很有前景的技術(shù)。此外,將MEMS器件與傳輸線(xiàn)單片集成在具有高介電常數的襯底上,例如陶瓷基板陶瓷襯底氧化鋁、氮化鋁、LTCC等,可以制造復雜的器件例如移相器、功率分配器、可調諧濾波器、耦合器等。

激光器件陶瓷基板

射頻MEMS制造只需要表面微加工技術(shù),Optel技術(shù)獨立于所使用的陶瓷基板,因為它只需要薄膜PVD金屬沉積、CVD鈍化和電鍍金。

Optel技術(shù)能夠在不同的基板上制造可靠的射頻MEMS器件:

1、Si(用于消費電子和CMOS技術(shù)的集成)

2、GaAs(用于半導體技術(shù)和高頻應用中的集成)

3、GaN/Si(用于單片集成有源大功率、高速放大電子器件,例如GaN-HEMT)

此外,除了半導體陶瓷基板之外,RF MEMS器件已在陶瓷如氧化鋁和LTCC拋光基板上單片制造。使用陶瓷基板的主要優(yōu)點(diǎn)是良好的熱穩定性、優(yōu)異的硬度和耐磨性、良好的耐腐蝕性、優(yōu)異的介電性能和可接受的導熱性。

傳感器陶瓷基板

在制造過(guò)程的穩定性是由于Optel技術(shù)在靜電和電磁水平上對半導體上MEMS器件進(jìn)行了許多改進(jìn)。雖然,陶瓷基板不受電離輻射的影響,因此避免了空間應用中產(chǎn)生電荷的許多問(wèn)題。最后,電荷俘獲現象是半導體上RF MEMS器件失效的最重要原因之一,也可以完全避免,因為高隔離基板上不需要電介質(zhì)。事實(shí)上,去除梁下方的電介質(zhì),以及引入固定在基板上或集成到梁中的凹坑以停止橋驅動(dòng),

此外,Optel技術(shù)是一種低成本技術(shù),相對于成熟的硅上射頻MEMS制造而言。事實(shí)上,半導體基板比陶瓷基板更昂貴,提出的技術(shù)是一種用于微電子無(wú)源器件的工藝。這可以在沒(méi)有源IC的過(guò)程(例如摻雜、離子注入和氧化物生長(cháng))的情況下完成。

dpc陶瓷基板

在RF MEMS器件的標準提議工藝中,有4個(gè)金屬化層:一個(gè)電阻層、一個(gè)導電層和2個(gè)電流厚度層。它們由2個(gè)鈍化層隔開(kāi),其中通孔打開(kāi)以提供與底層的互連。犧牲層是光致抗蝕劑,其上的膜由電流生長(cháng)限定。

作為第一步,沉積600nm厚的氮化硅作為絕緣層,沉積并定義高電阻金屬以創(chuàng )建驅動(dòng)焊盤(pán)和偏置線(xiàn)。接下來(lái),沉積新的氮化硅層以提供驅動(dòng)電極所需要的高隔離度,然后在氮化硅層內定義和蝕刻接觸直流通路。沉積并定義多層金屬地下通道以及在電橋下方創(chuàng )建射頻線(xiàn),并由第二鈍化層覆蓋,該鈍化層為射頻線(xiàn)提供絕緣層。然后,在氮化硅內打開(kāi)射頻通孔。接下來(lái),沉積并定義金屬層以提供低電阻電接觸。定義懸梁所需的犧牲層由3微米?厚的光刻膠,在電鍍金之前沉積多金屬層以獲得電連續性層。然后,生長(cháng)1?微米厚的金屬層來(lái)定義膜,并生長(cháng)2?微米厚的金屬層來(lái)定義RF線(xiàn)。最后,通過(guò)等離子蝕刻工藝去除犧牲層(圖1和圖2)。

對于陶瓷基板上的制造工藝,鈍化層可以減少到只需要在DC和RF線(xiàn)路之間進(jìn)行隔離的小區域,并且可以在橋下完全去除。

關(guān)鍵步驟是膜定義和犧牲層去除,特別是減少對膜的離子轟擊是一個(gè)眾所周知的問(wèn)題,它可能導致干法蝕刻工藝后的膜受到應力和變形。事實(shí)上,犧牲層蝕刻需要高度受限的等離子體,以盡量減少對金屬懸浮結構的損壞。所以,適當改變工藝條件,效果一直不錯。梁的特點(diǎn)是應力非常低、平整度高,并且在等離子體蝕刻過(guò)程中不會(huì )因減少熱和離子碰撞而造成損壞。此外,半導體和塊狀或多層陶瓷的機械行為均未發(fā)生變化(圖3)。

最后在表4,顯示了三種RF MEMS開(kāi)關(guān)的性能比較,但所呈現的性能并不具有密切的可比性,因為它們涉及開(kāi)發(fā)研究原型。無(wú)論如何,關(guān)于Optel開(kāi)關(guān),懸臂拓撲已顯示出DC和RF性能之間的最佳平衡。通常,歐姆接觸MEMS開(kāi)關(guān)的主要缺點(diǎn)是,由于電橋和傳輸線(xiàn)之間的非零接觸電阻,它們相對于電容開(kāi)關(guān)顯示出更高的損耗,并且由于陶瓷基板的固有粗糙度而進(jìn)一步增加了接觸電阻。此外,接觸區域容易產(chǎn)生高電流密度和可能的材料轉移,從而導致過(guò)早失效。但另一方面相對于雙錨式開(kāi)關(guān)(固定-固定串聯(lián)和分流),懸臂式開(kāi)關(guān)可縮短驅動(dòng)時(shí)間并降低吸合電壓。為了獲得緊湊的低損耗歐姆接觸懸臂MEMS開(kāi)關(guān),已經(jīng)對這些方面進(jìn)行了準確的分析和優(yōu)化。

因此,所設計的懸臂開(kāi)關(guān)已成為可重構射頻MEMS器件的構建塊。在Optel的活動(dòng)旨在設計用于高頻通信的T/R模塊中的設備,例如步進(jìn)延遲模塊、移相器和功率分配器。這種器件需要低插入損耗、高可重構性和小尺寸。RF MEMS器件代表了一種極具吸引力的替代方案,可滿(mǎn)足這一要求。因為與傳統MMIC相比,RF MEMS器件保證了低損耗、低功耗和出色的線(xiàn)性度。此外,高頻通信需要具有電子波束控制的發(fā)射和接收天線(xiàn)系統,RF MEMS可用于移相器,以控制天線(xiàn)陣列的各個(gè)輻射元件的相位。

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